Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104138
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorКраснобородько, С. Ю.ru
dc.contributor.authorKrasnoborodko, S. Yu.en
dc.date.accessioned2021-09-20T13:51:36Z-
dc.date.available2021-09-20T13:51:36Z-
dc.date.issued2017-
dc.identifier.citationКраснобородько С. Ю. Разработки в области вакуумного технологического оборудования для лабораторного применения / С. Ю. Краснобородько // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 59 p.ru
dc.identifier.isbn978-5-9500624-0-7-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/104138-
dc.description.abstractРоссийская научно-производственная компания ООО «СИТЭК» представляет свои разработки в области нанотехнологий, такие как уникальный сканирующий зондовый микроскоп, вакуумное оборудование для магнетронного распыления металлов, плазмохимического травления и осаждения. ООО «СИТЭК» производит оборудование под брендом AFMHD.ru
dc.description.abstractRussian scientific company SITEK LLC presents its developments in nanotechnology area such as advanced scanning probe microscope, vacuum processing equipment for magnetron sputtering of metals, plasma-chemical etching and deposition. SITEK LLC produces nanotechnology equipment under AFMHD brand.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoruen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017ru
dc.titleРазработки в области вакуумного технологического оборудования для лабораторного примененияru
dc.title.alternativeDevelopments in the field of vacuum process equipment for laboratoriesen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"en
dc.conference.date27.08.2017-30.08.2017-
local.description.firstpage59-
local.description.lastpage60-
local.description.orderO-15-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-0-7_2017_034.pdf386,53 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.