Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/104138
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Краснобородько, С. Ю. | ru |
dc.contributor.author | Krasnoborodko, S. Yu. | en |
dc.date.accessioned | 2021-09-20T13:51:36Z | - |
dc.date.available | 2021-09-20T13:51:36Z | - |
dc.date.issued | 2017 | - |
dc.identifier.citation | Краснобородько С. Ю. Разработки в области вакуумного технологического оборудования для лабораторного применения / С. Ю. Краснобородько // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 59 p. | ru |
dc.identifier.isbn | 978-5-9500624-0-7 | - |
dc.identifier.uri | http://elar.urfu.ru/handle/10995/104138 | - |
dc.description.abstract | Российская научно-производственная компания ООО «СИТЭК» представляет свои разработки в области нанотехнологий, такие как уникальный сканирующий зондовый микроскоп, вакуумное оборудование для магнетронного распыления металлов, плазмохимического травления и осаждения. ООО «СИТЭК» производит оборудование под брендом AFMHD. | ru |
dc.description.abstract | Russian scientific company SITEK LLC presents its developments in nanotechnology area such as advanced scanning probe microscope, vacuum processing equipment for magnetron sputtering of metals, plasma-chemical etching and deposition. SITEK LLC produces nanotechnology equipment under AFMHD brand. | en |
dc.format.mimetype | application/pdf | en |
dc.language.iso | ru | en |
dc.publisher | Ural Federal University | en |
dc.relation.ispartof | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017 | ru |
dc.title | Разработки в области вакуумного технологического оборудования для лабораторного применения | ru |
dc.title.alternative | Developments in the field of vacuum process equipment for laboratories | en |
dc.type | Conference Paper | en |
dc.type | info:eu-repo/semantics/conferenceObject | en |
dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion | en |
dc.conference.name | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research" | en |
dc.conference.date | 27.08.2017-30.08.2017 | - |
local.description.firstpage | 59 | - |
local.description.lastpage | 60 | - |
local.description.order | O-15 | - |
Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
978-5-9500624-0-7_2017_034.pdf | 386,53 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.