Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104127
Название: Зондовая нанолитография элемента резистивной памяти на основе мемристорных структур из оксида титана
Другие названия: Probe nanolithography of resistive memory element based on titanium oxide memristor structures
Авторы: Авилов, В. И.
Смирнов, В. А.
Avilov, V. I.
Smirnov, V. A.
Дата публикации: 2017
Издатель: Ural Federal University
Библиографическое описание: Авилов В. И. Зондовая нанолитография элемента резистивной памяти на основе мемристорных структур из оксида титана / В. И. Авилов, В. А. Смирнов // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 42 p.
Аннотация: В работе представлены результаты формирования макета элемента резистивной памяти на основе мемристорных структур из оксида титана с использованием зондовой нанолитографии методом локального анодного окисления, которые проявляют мемристорный эффект без проведения дополнительной операции электроформовки.
The paper presents the results of the formation of the resistive memory element model on the basis of the memristor structures of titanium oxide using probe nanolithography by the local anodic oxidation, which exhibit a memristor effect without carrying out an additional electroforming operation.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104127
Конференция/семинар: International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"
Дата конференции/семинара: 27.08.2017-30.08.2017
ISBN: 978-5-9500624-0-7
Сведения о поддержке: Работа выполнена при финансовой поддержке РФФИ (проекты № 16-32-00069 мол_а, № 16-29-14023 офи_м).
Источники: International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-0-7_2017_024.pdf483,61 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.