Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104127
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorАвилов, В. И.ru
dc.contributor.authorСмирнов, В. А.ru
dc.contributor.authorAvilov, V. I.en
dc.contributor.authorSmirnov, V. A.en
dc.date.accessioned2021-09-20T13:51:35Z-
dc.date.available2021-09-20T13:51:35Z-
dc.date.issued2017-
dc.identifier.citationАвилов В. И. Зондовая нанолитография элемента резистивной памяти на основе мемристорных структур из оксида титана / В. И. Авилов, В. А. Смирнов // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 42 p.ru
dc.identifier.isbn978-5-9500624-0-7-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/104127-
dc.description.abstractВ работе представлены результаты формирования макета элемента резистивной памяти на основе мемристорных структур из оксида титана с использованием зондовой нанолитографии методом локального анодного окисления, которые проявляют мемристорный эффект без проведения дополнительной операции электроформовки.ru
dc.description.abstractThe paper presents the results of the formation of the resistive memory element model on the basis of the memristor structures of titanium oxide using probe nanolithography by the local anodic oxidation, which exhibit a memristor effect without carrying out an additional electroforming operation.en
dc.description.sponsorshipРабота выполнена при финансовой поддержке РФФИ (проекты № 16-32-00069 мол_а, № 16-29-14023 офи_м).ru
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoruen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017ru
dc.titleЗондовая нанолитография элемента резистивной памяти на основе мемристорных структур из оксида титанаru
dc.title.alternativeProbe nanolithography of resistive memory element based on titanium oxide memristor structuresen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"en
dc.conference.date27.08.2017-30.08.2017-
local.description.firstpage42-
local.description.lastpage43-
local.description.orderO-05-
local.fund.rffi16-32-00069-
local.fund.rffi16-29-14023-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-0-7_2017_024.pdf483,61 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.