Please use this identifier to cite or link to this item: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104122
Title: Исследование самоорганизации атомов и молекул на поверхности кремния и германия с помощью сканирующей туннельной микроскопии
Other Titles: Study of the self-organization of atoms and molecules on the surface of silicon and germanium by means of scanning tunneling microscopy
Authors: Саранин, А. А.
Saranin, A. A.
Issue Date: 2017
Publisher: Ural Federal University
Citation: Саранин А. А. Исследование самоорганизации атомов и молекул на поверхности кремния и германия с помощью сканирующей туннельной микроскопии / А. А. Саранин // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 27-30, 2017). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2017. — 6-6 p.
Abstract: Среди различных подходов последние годы все большее внимание исследователей привлекает создания наноструктур из отдельных атомов и молекул (так называемая технология «снизу вверх») с использованием механизмов самоорганизации. В докладе будут представлены возможности сканирующей туннельной микроскопии для исследования топографии поверхности, ее состава, атомной и локальной электронной структуры. При этом основное внимание будет уделено количественным аспектам методов и точности измерений.
Among the various approaches in recent years, much attention of researchers has been attracted to the creation of nanostructures from individual atoms and molecules (the so-called bottom-up technology) using self-organization mechanisms. The report will present the possibilities of scanning tunneling microscopy for studying the topography of a surface, its composition, atomic and local electronic structure. The main attention will be paid to the quantitative aspects of the methods and accuracy of measurements.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/104122
Conference name: International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research"
Conference date: 27.08.2017-30.08.2017
ISBN: 978-5-9500624-0-7
Origin: International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Youth Conference "Application of Scanning Probe Microscopy in Scientific Research". — Ekaterinburg, 2017
Appears in Collections:Scanning Probe Microscopy

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
978-5-9500624-0-7_2017_002.pdf278,67 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.