Сканирующая зондовая микроскопия для исследований сегнетоэлектрических свойств микро- и наноструктур

Быков, В. А.; Быков, Ан. В.; Бобров, Ю. А.; Калинин, А. С.; Котов, В. В.; Леесмент, С. И.; Поляков, В. В.; Тимофеев, С. В.

Please use this identifier to cite or link to this item: http://elar.urfu.ru/handle/10995/101092

Title:	Сканирующая зондовая микроскопия для исследований сегнетоэлектрических свойств микро- и наноструктур
Authors:	Быков, В. А. Быков, Ан. В. Бобров, Ю. А. Калинин, А. С. Котов, В. В. Леесмент, С. И. Поляков, В. В. Тимофеев, С. В.
Issue Date:	2021
Publisher:	Уральский федеральный университет
Citation:	Пронин И. П. Сканирующая зондовая микроскопия для исследований сегнетоэлектрических свойств микро- и наноструктур / В. А. Быков, Ан. В. Быков, Ю. А. Бобров, А. С. Калинин, В. В. Котов, С. И. Леесмент, В. В. Поляков, С. В. Тимофеев // XXII Всероссийская конференция по физике сегнетоэлектриков (ВКС-XXII) : сборник тезисов (Екатеринбург, 25-28 августа 2021 г.). — Екатеринбург: Уральский федеральный университет, 2021. — С. 19-20.
URI:	http://elar.urfu.ru/handle/10995/101092
Conference name:	XXII Всероссийская конференция по физике сегнетоэлектриков (ВКС-XXII)
Conference date:	25.08.2021-28.08.2021
ISBN:	978-5-9500624-4-5
Origin:	XXII Всероссийская конференция по физике сегнетоэлектриков (ВКС-XXII). — Екатеринбург, 2021
Appears in Collections:	Конференции, семинары

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
978-5-9500624-4-5_011.pdf		572,04 kB	Adobe PDF	View/Open

Show full item record