Please use this identifier to cite or link to this item: https://elar.urfu.ru/handle/10995/101092
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorБыков, В. А.ru
dc.contributor.authorБыков, Ан. В.ru
dc.contributor.authorБобров, Ю. А.ru
dc.contributor.authorКалинин, А. С.ru
dc.contributor.authorКотов, В. В.ru
dc.contributor.authorЛеесмент, С. И.ru
dc.contributor.authorПоляков, В. В.ru
dc.contributor.authorТимофеев, С. В.ru
dc.date.accessioned2021-08-31T13:24:37Z-
dc.date.available2021-08-31T13:24:37Z-
dc.date.issued2021-
dc.identifier.citationПронин И. П. Сканирующая зондовая микроскопия для исследований сегнетоэлектрических свойств микро- и наноструктур / В. А. Быков, Ан. В. Быков, Ю. А. Бобров, А. С. Калинин, В. В. Котов, С. И. Леесмент, В. В. Поляков, С. В. Тимофеев // XXII Всероссийская конференция по физике сегнетоэлектриков (ВКС-XXII) : сборник тезисов (Екатеринбург, 25-28 августа 2021 г.). — Екатеринбург: Уральский федеральный университет, 2021. — С. 19-20.ru
dc.identifier.isbn978-5-9500624-4-5-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/101092-
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoruen
dc.publisherУральский федеральный университетru
dc.relation.ispartofXXII Всероссийская конференция по физике сегнетоэлектриков (ВКС-XXII). — Екатеринбург, 2021ru
dc.titleСканирующая зондовая микроскопия для исследований сегнетоэлектрических свойств микро- и наноструктурru
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameXXII Всероссийская конференция по физике сегнетоэлектриков (ВКС-XXII)ru
dc.conference.date25.08.2021-28.08.2021-
local.description.firstpage19-
local.description.lastpage20-
local.description.orderП7-
Appears in Collections:Конференции, семинары

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
978-5-9500624-4-5_011.pdf572,04 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.