Просмотр коллекции по группе - По автору Kim, S. S.
Отображение результатов 1 до 5 из 5
Дата публикации | Название | Авторы |
2017 | Enhanced clustering tendency of Cu-impurities with a number of oxygen vacancies in heavy carbon-loaded TiO2 - the bulk and surface morphologies | Zatsepin, D. A.; Boukhvalov, D. W.; Kurmaev, E. Z.; Zatsepin, A. F.; Kim, S. S.; Gavrilov, N. V.; Zhidkov, I. S. |
2016 | Pleomorphic structural imperfections caused by pulsed Bi-implantation in the bulk and thin-film morphologies of TiO 2 | Zatsepin, D. A.; Boukhvalov, D. W.; Kurmaev, E. Z.; Gavrilov, N. V.; Kim, S. S.; Zhidkov, I. S. |
2015 | Structural defects and electronic structure of N-ion implanted TiO 2 : Bulk versus thin film | Zatsepin, D. A.; Boukhvalov, D. W.; Kurmaev, E. Z.; Zhidkov, I. S.; Gavrilov, N. V.; Korotin, M. A.; Kim, S. S. |
2014 | Structural defects induced by Fe-ion implantation in TiO2 | Leedahl, B.; Zatsepin, D. A.; Boukhvalov, D. W.; Green, R. J.; McLeod, J. A.; Kim, S. S.; Kurmaev, E. Z.; Zhidkov, I. S.; Gavrilov, N. V.; Cholakh, S. O.; Moewes, A. |
2015 | XPS and DFT study of Sn incorporation into ZnO and TiO2 host matrices by pulsed ion implantation | Zatsepin, D. A.; Boukhvalov, D. W.; Kurmaev, E. Z.; Zhidkov, I. S.; Kim, S. S.; Cui, L.; Gavrilov, N. V.; Cholakh, S. O. |