Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/118112
Название: | Structural defects induced by Fe-ion implantation in TiO2 |
Авторы: | Leedahl, B. Zatsepin, D. A. Boukhvalov, D. W. Green, R. J. McLeod, J. A. Kim, S. S. Kurmaev, E. Z. Zhidkov, I. S. Gavrilov, N. V. Cholakh, S. O. Moewes, A. |
Дата публикации: | 2014 |
Издатель: | American Institute of Physics Inc. |
Библиографическое описание: | Structural defects induced by Fe-ion implantation in TiO2 / B. Leedahl, D. A. Zatsepin, D. W. Boukhvalov et al. // Journal of Applied Physics. — 2014. — Vol. 115. — Iss. 5. — 53711. |
Аннотация: | X-ray photoelectron spectroscopy and resonant x-ray emission spectroscopy measurements of pellet and thin film forms of TiO2 with implanted Fe ions are presented and discussed. The findings indicate that Fe-implantation in a TiO2 pellet sample induces heterovalent cation substitution (Fe2+ → Ti4+) beneath the surface region. But in thin film samples, the clustering of Fe atoms is primarily detected. In addition to this, significant amounts of secondary phases of Fe3+ are detected on the surface of all doped samples due to oxygen exposure. These experimental findings are compared with density functional theory calculations of formation energies for different configurations of structural defects in the implanted TiO2:Fe system. According to our calculations, the clustering of Fe-atoms in TiO2:Fe thin films can be attributed to the formation of combined substitutional and interstitial defects. Further, the differences due to Fe doping in pellet and thin film samples can ultimately be attributed to different surface to volume ratios. © 2014 AIP Publishing LLC. |
Ключевые слова: | DENSITY FUNCTIONAL THEORY EMISSION SPECTROSCOPY ION IMPLANTATION IRON OXIDE MINERALS PELLETIZING SEMICONDUCTOR DOPING THIN FILMS TITANIUM DIOXIDE X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY CATION SUBSTITUTIONS FORMATION ENERGIES INTERSTITIAL DEFECTS OXYGEN EXPOSURE RESONANT X-RAY EMISSION SPECTROSCOPIES SECONDARY PHASIS STRUCTURAL DEFECT SURFACE-TO-VOLUME RATIO IRON METALLOGRAPHY |
URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/118112 |
Условия доступа: | info:eu-repo/semantics/openAccess |
Идентификатор SCOPUS: | 84906876867 |
Идентификатор WOS: | 000331645900045 |
Идентификатор PURE: | 410865 |
ISSN: | 218979 |
DOI: | 10.1063/1.4864748 |
Располагается в коллекциях: | Научные публикации ученых УрФУ, проиндексированные в SCOPUS и WoS CC |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
2-s2.0-84906876867.pdf | 321 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.