Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/118112
Название: Structural defects induced by Fe-ion implantation in TiO2
Авторы: Leedahl, B.
Zatsepin, D. A.
Boukhvalov, D. W.
Green, R. J.
McLeod, J. A.
Kim, S. S.
Kurmaev, E. Z.
Zhidkov, I. S.
Gavrilov, N. V.
Cholakh, S. O.
Moewes, A.
Дата публикации: 2014
Издатель: American Institute of Physics Inc.
Библиографическое описание: Structural defects induced by Fe-ion implantation in TiO2 / B. Leedahl, D. A. Zatsepin, D. W. Boukhvalov et al. // Journal of Applied Physics. — 2014. — Vol. 115. — Iss. 5. — 53711.
Аннотация: X-ray photoelectron spectroscopy and resonant x-ray emission spectroscopy measurements of pellet and thin film forms of TiO2 with implanted Fe ions are presented and discussed. The findings indicate that Fe-implantation in a TiO2 pellet sample induces heterovalent cation substitution (Fe2+ → Ti4+) beneath the surface region. But in thin film samples, the clustering of Fe atoms is primarily detected. In addition to this, significant amounts of secondary phases of Fe3+ are detected on the surface of all doped samples due to oxygen exposure. These experimental findings are compared with density functional theory calculations of formation energies for different configurations of structural defects in the implanted TiO2:Fe system. According to our calculations, the clustering of Fe-atoms in TiO2:Fe thin films can be attributed to the formation of combined substitutional and interstitial defects. Further, the differences due to Fe doping in pellet and thin film samples can ultimately be attributed to different surface to volume ratios. © 2014 AIP Publishing LLC.
Ключевые слова: DENSITY FUNCTIONAL THEORY
EMISSION SPECTROSCOPY
ION IMPLANTATION
IRON
OXIDE MINERALS
PELLETIZING
SEMICONDUCTOR DOPING
THIN FILMS
TITANIUM DIOXIDE
X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY
CATION SUBSTITUTIONS
FORMATION ENERGIES
INTERSTITIAL DEFECTS
OXYGEN EXPOSURE
RESONANT X-RAY EMISSION SPECTROSCOPIES
SECONDARY PHASIS
STRUCTURAL DEFECT
SURFACE-TO-VOLUME RATIO
IRON METALLOGRAPHY
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/118112
Условия доступа: info:eu-repo/semantics/openAccess
Идентификатор SCOPUS: 84906876867
Идентификатор PURE: 410865
ISSN: 218979
DOI: 10.1063/1.4864748
Располагается в коллекциях:Научные публикации ученых УрФУ, проиндексированные в SCOPUS и WoS CC

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
2-s2.0-84906876867.pdf321 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.