Просмотр коллекции по группе - По автору Михайлович, А. П.

Перейти к: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я
или введите несколько первых букв:  
Отображение результатов 1 до 7 из 7
Дата публикацииНазваниеАвторы
2015XANES спектроскопия поверхностных состояний германия и структурная разупорядоченность Ge-имплантированных пленок SiO2Жидков, И. С.; Зацепин, А. Ф.; Курмаев, Э. З.; Зацепин, Д. А.; Михайлович, А. П.; Петров, H. A.; Zhidkov, I. S.; Zatsepin, A. F.; McLeod, J. A.; Pong, W. F.; Fitting, H.-J.; Schmidt, В.; Kurmaev, E. Z.; Zatsepin, D. A.; Mikhailovich, A. P.; Petrov, N. A.
2014Влияние облучения быстрыми нейтронами на рентгеновские фотоэлектронные спектры стекол BeO-PbO-SiO2Жидков, И. С.; Зацепин, А. Ф.; Кучеров, А. А.; Михайлович, А. П.; Чолах, С. О.
2006Метрологические аспекты компьютерной металлографииМихайлович, А. П.
2022Морфология и микроструктурные свойства нанокомпозитов MgAl2O4:GrapheneKiryakov, A. N.; Michailovich, A. P.; Dyachkova, T. V.; Tyutyunnik, A. P.; Киряков, А. Н.; Михайлович, А. П.; Дьячкова, Т. В.; Тютюнник, А. П.
2014Парамагнитные центры (Pb2+/h+) в электронно-облученных стеклах ТФМакарова, Н. Г.; Жидков, И. С.; Зацепин, А. Ф.; Конев, С. Ф.; Михайлович, А. П.; Чолах, С. О.
2014Проблемы перехода от полуколичественных к количественным методам анализа структуры металлов и сплавовМихайлович, А. П.; Кадушников, Р. М.; Баймаганбетов, Д. Б.
21-авг-2024Программа для оценки точности методов цифровой микроскопииБирюков, Д. Д.; Бирюкова, А. И.; Михайлович, А. П.; Зацепин, Д. А.