Влияние облучения быстрыми нейтронами на рентгеновские фотоэлектронные спектры стекол BeO-PbO-SiO2

Жидков, И. С.; Зацепин, А. Ф.; Кучеров, А. А.; Михайлович, А. П.; Чолах, С. О.

Please use this identifier to cite or link to this item: http://elar.urfu.ru/handle/10995/87191

Title:	Влияние облучения быстрыми нейтронами на рентгеновские фотоэлектронные спектры стекол BeO-PbO-SiO2
Authors:	Жидков, И. С. Зацепин, А. Ф. Кучеров, А. А. Михайлович, А. П. Чолах, С. О.
Issue Date:	2014
Publisher:	Уральский федеральный университет
Citation:	Влияние облучения быстрыми нейтронами на рентгеновские фотоэлектронные спектры стекол BeO-PbO-SiO2 / И. С. Жидков, А. Ф. Зацепин, А. А. Кучеров, А. П. Михайлович, С. О. Чолах // I Международная молодежная научная конференция, посвященная 65-летию основания Физико-технологического института : тезисы докладов (Екатеринбург, 21–25 апреля 2014 г.). — Екатеринбург : УрФУ, 2014. — C. 214-215.
URI:	http://elar.urfu.ru/handle/10995/87191
Conference name:	I Международная молодежная научная конференция, посвященная 65-летию основания Физико-технологического института
Conference date:	21.04.2014-25.04.2014
metadata.dc.description.sponsorship:	Работа выполнена при поддержке РФФИ (грант № 12-08-00852) и Уральского федерального университета в рамках конкурса молодых ученых.
Origin:	Физика. Технологии. Инновации (ФТИ-2014). — Екатеринбург, 2014
Appears in Collections:	Конференции, семинары

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
fti_2014_158.pdf		236,01 kB	Adobe PDF	View/Open

Show full item record Google Scholar