Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/99135
Название: | Влияние низкотемпературных условий на функционирование электронных измерительных устройств |
Другие названия: | INFLUENCE OF LOW TEMPERATURE ON THE FUNCTIONING OF ELECTRONIC MEASURING DEVICE |
Авторы: | Веселков, A. Ю. |
Дата публикации: | 2016 |
Издатель: | УрФУ |
Библиографическое описание: | Веселков A. Ю. Влияние низкотемпературных условий на функционирование электронных измерительных устройств / A. Ю. Веселков // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов III Международной молодежной научной конференции (Екатеринбург, 16–20 мая 2016 г.). — Екатеринбург : УрФУ, 2016. — C. 37-38. |
Аннотация: | External factors are influence to measuring of electronic device, especially the temperature is strongly influence. For unambiguous determination of the studied parameters it is necessary to eliminate these external factors. The research problem puts task to detection of problem places of electronic components and make attempt of elimination of these problems. |
URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/99135 |
Конференция/семинар: | III Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации» |
Дата конференции/семинара: | 16.05.2016-20.05.2016 |
Источники: | Физика. Технологии. Инновации (ФТИ-2016). — Екатеринбург, 2016 |
Располагается в коллекциях: | Конференции, семинары |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
fti_2016_010.pdf | 297,71 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.