Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/99135
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorВеселков, A. Ю.ru
dc.date.accessioned2021-06-22T08:08:12Z-
dc.date.available2021-06-22T08:08:12Z-
dc.date.issued2016-
dc.identifier.citationВеселков A. Ю. Влияние низкотемпературных условий на функционирование электронных измерительных устройств / A. Ю. Веселков // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов III Международной молодежной научной конференции (Екатеринбург, 16–20 мая 2016 г.). — Екатеринбург : УрФУ, 2016. — C. 37-38.en
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/99135-
dc.description.abstractExternal factors are influence to measuring of electronic device, especially the temperature is strongly influence. For unambiguous determination of the studied parameters it is necessary to eliminate these external factors. The research problem puts task to detection of problem places of electronic components and make attempt of elimination of these problems.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoruen
dc.publisherУрФУru
dc.relation.ispartofФизика. Технологии. Инновации (ФТИ-2016). — Екатеринбург, 2016ru
dc.titleВлияние низкотемпературных условий на функционирование электронных измерительных устройствru
dc.title.alternativeINFLUENCE OF LOW TEMPERATURE ON THE FUNCTIONING OF ELECTRONIC MEASURING DEVICEen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameIII Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации»ru
dc.conference.date16.05.2016-20.05.2016-
local.description.firstpage37-
local.description.lastpage38-
Располагается в коллекциях:Конференции, семинары

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
fti_2016_010.pdf297,71 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.