Наномеханические свойства наноструктурированных систем SiO2/Si

Альжанова, А. Е.

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/98923

Полная запись метаданных

Поле DC	Значение	Язык
dc.contributor.author	Альжанова, А. Е.	ru
dc.date.accessioned	2021-06-10T10:30:29Z	-
dc.date.available	2021-06-10T10:30:29Z	-
dc.date.issued	2019	-
dc.identifier.citation	Альжанова А. Е. Наномеханические свойства наноструктурированных систем SiO2/Si / А. Е. Альжанова // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов VI Международной молодежной научной конференции, посвященной 70-летию основания Физико-технологического института УрФУ (Екатеринбург, 20–24 мая 2019 г.). — Екатеринбург : ООО «Издательство учебно-методический центр УПИ», 2019. — C. 49-50.	ru
dc.identifier.isbn	978-5-8295-0640-7	-
dc.identifier.uri	http://elar.urfu.ru/handle/10995/98923	-
dc.description.abstract	A layer of silicon dioxide was irradiated with 131Xe (1×109 cm-2, 200 MeV) ions using an ion cyclotron accelerator DC-60 at Astana, Kazakhstan. After irradiation with fast heavy ions in the silicon dioxide layer formed the latent tracks. Tracks - a kind of extended cylinders, about 5-10 nm in size, formed in the fall of fast heavy ions. In this work, the influ-ence of these tracks on the hardness of the irradiated layer of silicon dioxide was studied.	en
dc.format.mimetype	application/pdf	en
dc.language.iso	ru	en
dc.publisher	ООО «Издательство учебно-методический центр УПИ»	ru
dc.relation.ispartof	Физика. Технологии. Инновации (ФТИ-2019). — Екатеринбург, 2019	ru
dc.title	Наномеханические свойства наноструктурированных систем SiO2/Si	ru
dc.title.alternative	NANOMECHANICAL PROPERTIES OF NANOSTRUCTURED SiO2/Si SYSTEMS	en
dc.type	Conference Paper	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/conferenceObject	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion	en
dc.conference.name	VI Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации», посвященной 70-летию основания Физико-технологического института УрФУ	ru
dc.conference.date	20.05.2019-24.05.2019	-
local.description.firstpage	49	-
local.description.lastpage	50	-
Располагается в коллекциях:	Конференции, семинары

Файлы этого ресурса:

Файл	Описание	Размер	Формат
978-5-8295-0640-7_2019_009.pdf		336,42 kB	Adobe PDF	Просмотреть/Открыть

Показать базовое описание ресурса Статистика Google Scholar

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.