Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/98655
Название: Влияние поверхностных напряжений, возникающих при термической обработке, на определение величины внутренних напряжений второго рода при рентгеновской дифрактометрии
Другие названия: INFLUENCE OF SURFACE VOLTAGES ARISING BY THERMAL TREATMENT ON DETERMINATION OF THE VALUE OF INTERNAL VOLTAGES OF THE SECOND KIND AT X-RAY DIFFRACTOMETRY
Авторы: Соколов, Р. А.
Новиков, В. Ф.
Венедиктов, А. Н.
Дата публикации: 2019
Издатель: ООО «Издательство учебно-методический центр УПИ»
Библиографическое описание: Соколов Р. А. Влияние поверхностных напряжений, возникающих при термической обработке, на определение величины внутренних напряжений второго рода при рентгеновской дифрактометрии / Р. А. Соколов, В. Ф. Новиков, А. Н. Венедиктов // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов VI Международной молодежной научной конференции, посвященной 70-летию основания Физико-технологического института УрФУ (Екатеринбург, 20–24 мая 2019 г.). — Екатеринбург : ООО «Издательство учебно-методический центр УПИ», 2019. — C. 798-799.
Аннотация: The article presents the results of laboratory studies of the effect of quenching stresses of the surface layers on the determination of the true stresses acting between the grains in the metal.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/98655
Конференция/семинар: VI Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации», посвященной 70-летию основания Физико-технологического института УрФУ
Дата конференции/семинара: 20.05.2019-24.05.2019
ISBN: 978-5-8295-0640-7
Источники: Физика. Технологии. Инновации (ФТИ-2019). — Екатеринбург, 2019
Располагается в коллекциях:Конференции, семинары

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-8295-0640-7_2019_478.pdf199,51 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.