Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/98655
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorСоколов, Р. А.ru
dc.contributor.authorНовиков, В. Ф.ru
dc.contributor.authorВенедиктов, А. Н.ru
dc.date.accessioned2021-06-10T10:29:51Z-
dc.date.available2021-06-10T10:29:51Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.citationСоколов Р. А. Влияние поверхностных напряжений, возникающих при термической обработке, на определение величины внутренних напряжений второго рода при рентгеновской дифрактометрии / Р. А. Соколов, В. Ф. Новиков, А. Н. Венедиктов // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов VI Международной молодежной научной конференции, посвященной 70-летию основания Физико-технологического института УрФУ (Екатеринбург, 20–24 мая 2019 г.). — Екатеринбург : ООО «Издательство учебно-методический центр УПИ», 2019. — C. 798-799.ru
dc.identifier.isbn978-5-8295-0640-7-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/98655-
dc.description.abstractThe article presents the results of laboratory studies of the effect of quenching stresses of the surface layers on the determination of the true stresses acting between the grains in the metal.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoruen
dc.publisherООО «Издательство учебно-методический центр УПИ»ru
dc.relation.ispartofФизика. Технологии. Инновации (ФТИ-2019). — Екатеринбург, 2019ru
dc.titleВлияние поверхностных напряжений, возникающих при термической обработке, на определение величины внутренних напряжений второго рода при рентгеновской дифрактометрииru
dc.title.alternativeINFLUENCE OF SURFACE VOLTAGES ARISING BY THERMAL TREATMENT ON DETERMINATION OF THE VALUE OF INTERNAL VOLTAGES OF THE SECOND KIND AT X-RAY DIFFRACTOMETRYen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameVI Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации», посвященной 70-летию основания Физико-технологического института УрФУru
dc.conference.date20.05.2019-24.05.2019-
local.description.firstpage798-
local.description.lastpage799-
Располагается в коллекциях:Конференции, семинары

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-8295-0640-7_2019_478.pdf199,51 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.