Please use this identifier to cite or link to this item: http://elar.urfu.ru/handle/10995/98555
Title: Centers of crystallization in antimony thin films studied by transnission electron microscopy
Authors: Kolosov, V. Yu.
Yushkov, A. A.
Bokuniaeva, A. O.
Veretennikov, L. M.
Issue Date: 2019
Publisher: ООО «Издательство учебно-методический центр УПИ»
Citation: Centers of crystallization in antimony thin films studied by transnission electron microscopy / V. Yu. Kolosov, A. A. Yushkov, A. O. Bokuniaeva, L. M. Veretennikov // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов VI Международной молодежной научной конференции, посвященной 70-летию основания Физико-технологического института УрФУ (Екатеринбург, 20–24 мая 2019 г.). — Екатеринбург : ООО «Издательство учебно-методический центр УПИ», 2019. — C. 655-656.
Abstract: We performed TEM studies of 7 crystallization centers using specially evaporated Sb thin films in finite areas. Strong internal lattice bending is revealed by use of the bend contour method.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/98555
Conference name: VI Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации», посвященной 70-летию основания Физико-технологического института УрФУ
Conference date: 20.05.2019-24.05.2019
ISBN: 978-5-8295-0640-7
Sponsorship: Partial support of project 3.6121.2017/8.9 (RF Ministry of Education and Science) and agreement № 02.A03.21.0006 (Act 211 Government of the RF) is acknowledged.
Origin: Физика. Технологии. Инновации (ФТИ-2019). — Екатеринбург, 2019
Appears in Collections:Конференции, семинары

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
978-5-8295-0640-7_2019_388.pdf417,85 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.