Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/98555
Название: Centers of crystallization in antimony thin films studied by transnission electron microscopy
Авторы: Kolosov, V. Yu.
Yushkov, A. A.
Bokuniaeva, A. O.
Veretennikov, L. M.
Дата публикации: 2019
Издатель: ООО «Издательство учебно-методический центр УПИ»
Библиографическое описание: Centers of crystallization in antimony thin films studied by transnission electron microscopy / V. Yu. Kolosov, A. A. Yushkov, A. O. Bokuniaeva, L. M. Veretennikov // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов VI Международной молодежной научной конференции, посвященной 70-летию основания Физико-технологического института УрФУ (Екатеринбург, 20–24 мая 2019 г.). — Екатеринбург : ООО «Издательство учебно-методический центр УПИ», 2019. — C. 655-656.
Аннотация: We performed TEM studies of 7 crystallization centers using specially evaporated Sb thin films in finite areas. Strong internal lattice bending is revealed by use of the bend contour method.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/98555
Конференция/семинар: VI Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации», посвященной 70-летию основания Физико-технологического института УрФУ
Дата конференции/семинара: 20.05.2019-24.05.2019
ISBN: 978-5-8295-0640-7
Сведения о поддержке: Partial support of project 3.6121.2017/8.9 (RF Ministry of Education and Science) and agreement № 02.A03.21.0006 (Act 211 Government of the RF) is acknowledged.
Источники: Физика. Технологии. Инновации (ФТИ-2019). — Екатеринбург, 2019
Располагается в коллекциях:Конференции, семинары

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-8295-0640-7_2019_388.pdf417,85 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.