ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/98354| Название: | Оценка качества внутрисхемного контроля цифровых схем |
| Другие названия: | QUALITY EVALUATION OF THE IN-CIRCUIT CONTROL TEST |
| Авторы: | Солодков, Р. Э. Петрухнова, Г. В. |
| Дата публикации: | 2019 |
| Издатель: | ООО «Издательство учебно-методический центр УПИ» |
| Библиографическое описание: | Солодков Р. Э. Оценка качества внутрисхемного контроля цифровых схем / Р. Э. Солодков, Г. В. Петрухнова // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов VI Международной молодежной научной конференции, посвященной 70-летию основания Физико-технологического института УрФУ (Екатеринбург, 20–24 мая 2019 г.). — Екатеринбург : ООО «Издательство учебно-методический центр УПИ», 2019. — C. 366-367. |
| Аннотация: | The entropy criterion is used to evaluate the quality of the in-circuit control tests in digital devices. The presented approach allows to analyze the in-circuit control test and to reduce its length. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/98354 |
| Конференция/семинар: | VI Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации», посвященной 70-летию основания Физико-технологического института УрФУ |
| Дата конференции/семинара: | 20.05.2019-24.05.2019 |
| ISBN: | 978-5-8295-0640-7 |
| Источники: | Физика. Технологии. Инновации (ФТИ-2019). — Екатеринбург, 2019 |
| Располагается в коллекциях: | Конференции, семинары |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 978-5-8295-0640-7_2019_206.pdf | 400,39 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.