Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/98354
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorСолодков, Р. Э.ru
dc.contributor.authorПетрухнова, Г. В.ru
dc.date.accessioned2021-06-10T10:29:07Z-
dc.date.available2021-06-10T10:29:07Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.citationСолодков Р. Э. Оценка качества внутрисхемного контроля цифровых схем / Р. Э. Солодков, Г. В. Петрухнова // Физика. Технологии. Инновации : тезисы докладов VI Международной молодежной научной конференции, посвященной 70-летию основания Физико-технологического института УрФУ (Екатеринбург, 20–24 мая 2019 г.). — Екатеринбург : ООО «Издательство учебно-методический центр УПИ», 2019. — C. 366-367.ru
dc.identifier.isbn978-5-8295-0640-7-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/98354-
dc.description.abstractThe entropy criterion is used to evaluate the quality of the in-circuit control tests in digital devices. The presented approach allows to analyze the in-circuit control test and to reduce its length.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoruen
dc.publisherООО «Издательство учебно-методический центр УПИ»ru
dc.relation.ispartofФизика. Технологии. Инновации (ФТИ-2019). — Екатеринбург, 2019ru
dc.titleОценка качества внутрисхемного контроля цифровых схемru
dc.title.alternativeQUALITY EVALUATION OF THE IN-CIRCUIT CONTROL TESTen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameVI Международная молодежная научная конференция «Физика. Технологии. Инновации», посвященной 70-летию основания Физико-технологического института УрФУru
dc.conference.date20.05.2019-24.05.2019-
local.description.firstpage366-
local.description.lastpage367-
Располагается в коллекциях:Конференции, семинары

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-8295-0640-7_2019_206.pdf400,39 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.