Зондовая микроскопия аморфизирующихся тонких слоев системы Fе–Si–Cu–Mg–O

Abstract

Surface structure of thin amorphous film was being analyzed using probe scanning technique. The film was obtained by interaction of thermostable MgO coating with Fe–3 %Si–0,5 %Cu alloy surface at annealing until 1060 °C temperature. Results accordance of probe microscopy, non-ambient x-ray diffraction and scanning electron microscopy has been showed as satisfactory.

Методом зондовой сканирующей микроскопии анализировалась структура поверхности тонкой аморфной пленки, полученной в результате взаимодействия термостойкого покрытия MgO c поверхностью технического сплава Fe–3 %Si–0,5 %Cu при отжиге до температуры 1060 °C. Показано удовлетворительное согласие результатов зондовой микроскопии, терморентгенографии и сканирующей электронной микроскопии.