ISSN: 2310-757X
Статистика
Посещений всего
| Посещения | |
|---|---|
| Зондовая микроскопия аморфизирующихся тонких слоев системы Fе–Si–Cu–Mg–O | 119 |
Посещений по месяцам
| октября 2024 | ноября 2024 | декабря 2024 | января 2025 | февраля 2025 | марта 2025 | апреля 2025 | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Зондовая микроскопия аморфизирующихся тонких слоев системы Fе–Si–Cu–Mg–O | 9 | 2 | 5 | 4 | 6 | 5 | 2 |
Загрузок
| Посещения | |
|---|---|
| 978-5-7996-3134-5_2020_076.pdf | 54 |
Посещений по странам
| Посещения | |
|---|---|
| Соединенные Штаты | 58 |
| Россия | 24 |
| Франция | 6 |
| Германия | 4 |
| Вьетнам | 4 |
| Индия | 3 |
| Армения | 2 |
| Бразилия | 2 |
| Соединенное Королевство | 2 |
| Сингапур | 2 |
Посещений по городам
| Посещения | |
|---|---|
| Moscow | 14 |
| San Mateo | 4 |
| Ashburn | 3 |
| Mumbai | 3 |
| Areal | 1 |
| Balashikha | 1 |
| Boardman | 1 |
| Cambridge | 1 |
| Cleveland | 1 |
| Des Moines | 1 |