Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/92338
Название: An "in situ" study of study of quenched Ti-Al system samples during heating
Авторы: Demakov, S.
Semkina, I.
Kirillova, I.
Дата публикации: 2019
Издатель: Institute of Physics Publishing
Библиографическое описание: Demakov S. An "in situ" study of study of quenched Ti-Al system samples during heating / S. Demakov, I. Semkina, I. Kirillova. — DOI 10.1088/1757-899X/613/1/012007 // IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. — 2019. — Vol. 1. — Iss. 613. — 12007.
Аннотация: The study of the Ti-Al system samples containing up to 10 wt.% Al water quenched from different temperatures in β-phase region, was carried out in situ during heating on X-ray diffractometer. XRD analysis of quenched samples showed the presence of α'-martensite only. After quenching the increase of Al content in alloys displayed the decrease of the lattice parameters «a» and «c» and the rise of «c/a» ratio, since the lattice parameter «c» dropped slightly in contrast with the lattice parameter «a». Furthermore, Thermo-XRD (T-XRD) analysis represented the anisotropy of the coefficient of thermal expansion (CTE). Besides, T-XRD analysis indicated, that «c/a» ratio of samples Ti-0.5 wt.% Al with the least amount of Al revealed the fall of «c/a» ratio and at the same time samples contained 7 and 8 wt.% Al remained practically the same during heating. Whereas, samples Ti-10 wt.% Al with the largest quantity of Al showed the rise of c/a ratio during heating. © 2019 IOP Publishing Ltd. All rights reserved.
Ключевые слова: BINARY ALLOYS
HEATING
LATTICE CONSTANTS
THERMAL EXPANSION
TITANIUM ALLOYS
X RAY DIFFRACTION
AL CONTENT
BETA-PHASE
TIME SAMPLES
WATER-QUENCHED
X RAY DIFFRACTOMETERS
XRD ANALYSIS
ALUMINUM ALLOYS
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/92338
Условия доступа: info:eu-repo/semantics/openAccess
Идентификатор SCOPUS: 85075109685
Идентификатор WOS: 000562600500007
Идентификатор PURE: 11331234
ISSN: 1757-8981
DOI: 10.1088/1757-899X/613/1/012007
Располагается в коллекциях:Научные публикации ученых УрФУ, проиндексированные в SCOPUS и WoS CC

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
10.1088-1757-899X-613-1-012007.pdf564,99 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.