Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/90167
Название: | Development of FEM programs for assessing the risk of electrical breakdown of devices operating in high humidity conditions |
Авторы: | Sachkov, I. N. Turygina, V. F. Ford, V. |
Дата публикации: | 2019 |
Издатель: | American Institute of Physics Inc. |
Библиографическое описание: | Sachkov, I. N. Development of FEM programs for assessing the risk of electrical breakdown of devices operating in high humidity conditions / I. N. Sachkov, V. F. Turygina, V. Ford. — DOI 10.1063/1.5133571 // AIP Conference Proceedings. — 2019. — Iss. 2172. — 80013. |
Аннотация: | This study explored a scenario of a new mechanism of electric shock. Using computer simulation using the finite element method, the possibility of the existence of unlikely short-term electrical breakdowns caused by synergistic effects is shown. A method for assessing the risk of a self-organizing conductive cluster of moisture droplets is proposed. © 2019 Author(s). |
URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/90167 |
Условия доступа: | info:eu-repo/semantics/openAccess |
Идентификатор SCOPUS: | 85075793824 |
Идентификатор WOS: | 000521744400089 |
Идентификатор PURE: | 11329982 |
ISSN: | 0094-243X |
ISBN: | 9780735419193 |
DOI: | 10.1063/1.5133571 |
Располагается в коллекциях: | Научные публикации ученых УрФУ, проиндексированные в SCOPUS и WoS CC |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
10.1063-1.5133571.pdf | 492,05 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.