Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/90167
Название: Development of FEM programs for assessing the risk of electrical breakdown of devices operating in high humidity conditions
Авторы: Sachkov, I. N.
Turygina, V. F.
Ford, V.
Дата публикации: 2019
Издатель: American Institute of Physics Inc.
Библиографическое описание: Sachkov, I. N. Development of FEM programs for assessing the risk of electrical breakdown of devices operating in high humidity conditions / I. N. Sachkov, V. F. Turygina, V. Ford. — DOI 10.1063/1.5133571 // AIP Conference Proceedings. — 2019. — Iss. 2172. — 80013.
Аннотация: This study explored a scenario of a new mechanism of electric shock. Using computer simulation using the finite element method, the possibility of the existence of unlikely short-term electrical breakdowns caused by synergistic effects is shown. A method for assessing the risk of a self-organizing conductive cluster of moisture droplets is proposed. © 2019 Author(s).
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/90167
Условия доступа: info:eu-repo/semantics/openAccess
Идентификатор SCOPUS: 85075793824
Идентификатор WOS: 000521744400089
Идентификатор PURE: 11329982
ISSN: 0094-243X
ISBN: 9780735419193
DOI: 10.1063/1.5133571
Располагается в коллекциях:Научные публикации ученых УрФУ, проиндексированные в SCOPUS и WoS CC

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
10.1063-1.5133571.pdf492,05 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.