Fabrication of probes for scanning near-field optical microscopy using focused ion beam

Kolomiytsev, A. S.; Shandyba, N. A.; Panchenko, I. V.; Lisitsyn, S. A.

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/80840

Полная запись метаданных

Поле DC	Значение	Язык
dc.contributor.author	Kolomiytsev, A. S.	en
dc.contributor.author	Shandyba, N. A.	en
dc.contributor.author	Panchenko, I. V.	en
dc.contributor.author	Lisitsyn, S. A.	en
dc.date.accessioned	2020-03-24T06:59:53Z	-
dc.date.available	2020-03-24T06:59:53Z	-
dc.date.issued	2018	-
dc.identifier.citation	Fabrication of probes for scanning near-field optical microscopy using focused ion beam / A. S. Kolomiytsev, N. A. Shandyba, I. V. Panchenko, S. A. Lisitsyn // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 141-142.	en
dc.identifier.isbn	978-5-9500624-1-4	-
dc.identifier.uri	http://elar.urfu.ru/handle/10995/80840	-
dc.description.sponsorship	The results were obtained using the infrastructure of the Center for Shared Use “Nanotechnology” of the Southern Federal University.	en
dc.format.mimetype	application/pdf	en
dc.language.iso	en	en
dc.publisher	Ural Federal University	en
dc.relation.ispartof	International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018	en
dc.title	Fabrication of probes for scanning near-field optical microscopy using focused ion beam	en
dc.type	Conference Paper	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/conferenceObject	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion	en
dc.conference.name	International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials"	en
dc.conference.date	26.08.2018-29.08.2018	-
local.description.firstpage	141	-
local.description.lastpage	142	-
local.description.order	P-40	-
Располагается в коллекциях:	Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:

Файл	Описание	Размер	Формат
978-5-9500624-1-4_2018_099.pdf		227,06 kB	Adobe PDF	Просмотреть/Открыть

Показать базовое описание ресурса Статистика

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.