1. Электронный научный архив УрФУ
  2. 00. Общеуниверситетские коллекции
  3. Конференции, семинары, сборники
  4. Scanning Probe Microscopy
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/80825
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorGimadeeva, L. V.en
dc.contributor.authorChezganov, D. S.en
dc.contributor.authorMerzliakova, A. S.en
dc.contributor.authorYuzhakov, V. V.en
dc.contributor.authorMalič, B.en
dc.contributor.authorKholkin, A. L.en
dc.contributor.authorShur, V. Ya.en
dc.contributor.authorШур, В. Я.ru
dc.date.accessioned2020-03-24T06:59:49Z-
dc.date.available2020-03-24T06:59:49Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.citationDomain structure and grain orientation in PLZT ceramics using electron backscatter diffraction and piezoresponse force microscopy / L. V. Gimadeeva, D. S. Chezganov, A. S. Merzliakova, V. V. Yuzhakov, B. Malič, A. L. Kholkin, V. Ya. Shur // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 122.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-1-4-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/80825-
dc.description.sponsorshipThe equipment of the Ural Center for Shared Use “Modern nanotechnology” UrFU was used. The research was made possible by Russian Foundation of Basic Research (Grant 16-02-00821-а).en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018en
dc.titleDomain structure and grain orientation in PLZT ceramics using electron backscatter diffraction and piezoresponse force microscopyen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials"en
dc.conference.date26.08.2018-29.08.2018-
local.description.firstpage122-
local.description.lastpage122-
local.description.orderP-26-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-1-4_2018_085.pdf188,49 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Статистика  Google Scholar





Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.