Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/80820
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorDementyeva, M. M.en
dc.contributor.authorPrikhodko, K. E.en
dc.contributor.authorGurovich, B. A.en
dc.contributor.authorKutuzov, L. V.en
dc.contributor.authorKomarov, D. A.en
dc.date.accessioned2020-03-24T06:59:48Z-
dc.date.available2020-03-24T06:59:48Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.citationSTEM and HRTEM techniques for investigation of cobalt recovery temperature dependence under ion beam irradiation / M. M. Dementyeva, K. E. Prikhodko, B. A. Gurovich, L. V. Kutuzov, D. A. Komarov // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 112-113.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-1-4-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/80820-
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018en
dc.titleSTEM and HRTEM techniques for investigation of cobalt recovery temperature dependence under ion beam irradiationen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials"en
dc.conference.date26.08.2018-29.08.2018-
local.description.firstpage112-
local.description.lastpage113-
local.description.orderP-21-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-1-4_2018_080.pdf622,06 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.