1. Электронный научный архив УрФУ
  2. 00. Общеуниверситетские коллекции
  3. Конференции, семинары, сборники
  4. Scanning Probe Microscopy
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/80813
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorBegletsova, N. N.en
dc.contributor.authorGavrikov, M. V.en
dc.contributor.authorChumakov, A. S.en
dc.contributor.authorSelifonova, E. I.en
dc.contributor.authorChernova, R. K.en
dc.contributor.authorOliskevich, V. V.en
dc.contributor.authorGlukhovskoy, E. G.en
dc.date.accessioned2020-03-24T06:59:47Z-
dc.date.available2020-03-24T06:59:47Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.citationStudy of the surface microrelief of copper nanoparticles by the method of scanning probe microscopy / N. N. Begletsova, M. V. Gavrikov, A. S. Chumakov, E. I. Selifonova, R. K. Chernova, V. V. Oliskevich, E. G. Glukhovskoy // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 103-104.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-1-4-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/80813-
dc.description.sponsorshipThis work was supported by grants from the RFBR № 17-07-00407-а and № 17-32-50137-mol_nr.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018en
dc.titleStudy of the surface microrelief of copper nanoparticles by the method of scanning probe microscopyen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials"en
dc.conference.date26.08.2018-29.08.2018-
local.description.firstpage103-
local.description.lastpage104-
local.description.orderP-15-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-1-4_2018_074.pdf504,68 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Статистика  Google Scholar





Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.