Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/80798
Название: Local study of the domain wall mobility in ferroelectric ceramics under the action of electric field and mechanical loading
Авторы: Abramov, A. S.
Alikin, D. O.
Turygin, A. P.
Neradovskiy, M. M.
Kornilova, V. S.
Nikitin, A. V.
Karpinsky, D. V.
Shur, V. Ya.
Kholkin, A. L.
Шур, В. Я.
Дата публикации: 2018
Издатель: Ural Federal University
Библиографическое описание: Local study of the domain wall mobility in ferroelectric ceramics under the action of electric field and mechanical loading / A. S. Abramov, D. O. Alikin, A. P. Turygin, M. M. Neradovskiy, V. S. Kornilova, A. V. Nikitin, D. V. Karpinsky, V. Ya. Shur, A. L. Kholkin // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 84.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/80798
Конференция/семинар: International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials"
Дата конференции/семинара: 26.08.2018-29.08.2018
ISBN: 978-5-9500624-1-4
Сведения о поддержке: The equipment of the Ural Center for Shared Use “Modern nanotechnology” was used. The reported study was funded by RFBR (grant No. 17-52-04074) and BRFFR (grant No. F17RM-036). This work was developed within the scope of the project CICECO-Aveiro Institute of Materials, POCI-01-0145-FEDER-007679 (FCT Ref. UID/CTM/50011/2013), financed by national funds through the FCT/MEC and when appropriate co-financed by FEDER under the PT2020 Partnership Agreement. This project has received funding from the European Union’s Horizon 2020 research and innovation program under the Marie Skłodowska-Curie grant agreement No 778070.
Источники: International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-1-4_2018_060.pdf541,64 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.