Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/80792
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorAvilov, V. I.en
dc.contributor.authorSmirnov, V. A.en
dc.contributor.authorTominov, R. V.en
dc.contributor.authorSharapov, N. A.en
dc.contributor.authorPolupanov, N. A.en
dc.date.accessioned2020-03-24T06:59:42Z-
dc.date.available2020-03-24T06:59:42Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.citationFormation and study of the RRAM memory elements by local anodic oxidation method / V. I. Avilov, V. A. Smirnov, R. V. Tominov, N. A. Sharapov, N. A. Polupanov // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 76-77.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-1-4-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/80792-
dc.description.sponsorshipThis work was supported by RFBR according to the research project № 18-37-00299 and by Grant of the President of the Russian Federation No. MK-2721.2018.8.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018en
dc.titleFormation and study of the RRAM memory elements by local anodic oxidation methoden
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials"en
dc.conference.date26.08.2018-29.08.2018-
local.description.firstpage76-
local.description.lastpage77-
local.description.orderO-32-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-1-4_2018_055.pdf302,55 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.