1. Электронный научный архив УрФУ
  2. 00. Общеуниверситетские коллекции
  3. Конференции, семинары, сборники
  4. Scanning Probe Microscopy
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/80783
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorPronin, I. P.en
dc.contributor.authorKaptelov, E. Yu.en
dc.contributor.authorSenkevich, S. V.en
dc.contributor.authorDolgintsev, D. M.en
dc.contributor.authorPronin, V. P.en
dc.contributor.authorVolpyas, A. V.en
dc.contributor.authorKozyrev, A. B.en
dc.date.accessioned2020-03-24T06:59:40Z-
dc.date.available2020-03-24T06:59:40Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.citationCompositional variation of thin PZT films near morphotropic phase boundary: experiment and simulation / I. P. Pronin, E. Yu. Kaptelov, S. V. Senkevich, D. M. Dolgintsev, V. P. Pronin, A. V. Volpyas, A. B. Kozyrev // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 67.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-1-4-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/80783-
dc.description.sponsorshipThe work was partly supported by the Ministry for Education and Science (Russian Federation) (Grant No 16.2811.2017/4.6) and RFBR (Grant No 16-02-00632).en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018en
dc.titleCompositional variation of thin PZT films near morphotropic phase boundary: experiment and simulationen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials"en
dc.conference.date26.08.2018-29.08.2018-
local.description.firstpage67-
local.description.lastpage67-
local.description.orderO-24-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-1-4_2018_047.pdf480,17 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Статистика


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.