1. Электронный научный архив УрФУ
  2. 00. Общеуниверситетские коллекции
  3. Конференции, семинары, сборники
  4. Scanning Probe Microscopy
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/80782
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorChouprik, A.en
dc.contributor.authorZakharchenko, S.en
dc.contributor.authorSpiridonov, M.en
dc.contributor.authorZarubin, S.en
dc.contributor.authorChernikova, A.en
dc.contributor.authorKirtaev, R.en
dc.contributor.authorBuragohain, P.en
dc.contributor.authorGruverman, A.en
dc.contributor.authorZenkevich, A.en
dc.contributor.authorNegrov, D.en
dc.date.accessioned2020-03-24T06:59:40Z-
dc.date.available2020-03-24T06:59:40Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.citationElectric field-induced phase transformations in ferroelectric polycrystalline Hf0.5Zr0.5O2 thin films / A. Chouprik, S. Zakharchenko, M. Spiridonov, S. Zarubin, A. Chernikova, R. Kirtaev, P. Buragohain, A. Gruverman, A. Zenkevich, D. Negrov // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 65-66.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-1-4-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/80782-
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018en
dc.titleElectric field-induced phase transformations in ferroelectric polycrystalline Hf0.5Zr0.5O2 thin filmsen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials"en
dc.conference.date26.08.2018-29.08.2018-
local.description.firstpage65-
local.description.lastpage66-
local.description.orderO-23-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-1-4_2018_046.pdf450,39 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Статистика


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.