ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/80780Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Sazanova, T. S. | en |
| dc.contributor.author | Otvagina, K. V. | en |
| dc.contributor.author | Shestoperova, Т. А. | en |
| dc.contributor.author | Vorotyntsev, I. V. | en |
| dc.date.accessioned | 2020-03-24T06:59:40Z | - |
| dc.date.available | 2020-03-24T06:59:40Z | - |
| dc.date.issued | 2018 | - |
| dc.identifier.citation | AFM-based approach to establish structure/property type correlations for polymeric functional materials / T. S. Sazanova, K. V. Otvagina, Т. А. Shestoperova, I. V. Vorotyntsev // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 62-63. | en |
| dc.identifier.isbn | 978-5-9500624-1-4 | - |
| dc.identifier.uri | http://elar.urfu.ru/handle/10995/80780 | - |
| dc.description.sponsorship | This work was supported by the RSF (project No. 18-19-00453) and the RFBR (project No. 18-08-01356 A). | en |
| dc.format.mimetype | application/pdf | en |
| dc.language.iso | en | en |
| dc.publisher | Ural Federal University | en |
| dc.relation | info:eu-repo/grantAgreement/RSF//18-19-00453 | en |
| dc.relation.ispartof | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018 | en |
| dc.title | AFM-based approach to establish structure/property type correlations for polymeric functional materials | en |
| dc.type | Conference Paper | en |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/conferenceObject | en |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion | en |
| dc.conference.name | International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials" | en |
| dc.conference.date | 26.08.2018-29.08.2018 | - |
| local.description.firstpage | 62 | - |
| local.description.lastpage | 63 | - |
| local.description.order | O-21 | - |
| local.fund.rsf | 18-19-00453 | - |
| Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy | |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 978-5-9500624-1-4_2018_044.pdf | 168,82 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.