Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/80777
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorDunaevskiy, M. S.en
dc.contributor.authorAlekseev, P. A.en
dc.contributor.authorGeydt, P.en
dc.contributor.authorLahderanta, E.en
dc.contributor.authorHaggren, T.en
dc.contributor.authorLipsanen, H.en
dc.date.accessioned2020-03-24T06:59:39Z-
dc.date.available2020-03-24T06:59:39Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.citationMeasurement of the bending of thin inclined nanowires as a method for determining elastic modulus / M. S. Dunaevskiy, P. A. Alekseev, P. Geydt, E. Lahderanta, T. Haggren, H. Lipsanen // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 57-58.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-1-4-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/80777-
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018en
dc.titleMeasurement of the bending of thin inclined nanowires as a method for determining elastic modulusen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials"en
dc.conference.date26.08.2018-29.08.2018-
local.description.firstpage57-
local.description.lastpage58-
local.description.orderO-18-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-1-4_2018_041.pdf162,09 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.