Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/80764
Название: Influence of deformation distribution in console-probe-sample system on AFM measurements
Авторы: Ankudinov, A. V.
Дата публикации: 2018
Издатель: Ural Federal University
Библиографическое описание: Ankudinov A. V. Influence of deformation distribution in console-probe-sample system on AFM measurements / A. V. Ankudinov // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 8.
URI: http://elar.urfu.ru/handle/10995/80764
Конференция/семинар: International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials"
Дата конференции/семинара: 26.08.2018-29.08.2018
ISBN: 978-5-9500624-1-4
Источники: International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-1-4_2018_003.pdf158,73 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.