Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/80757
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorBystrov, V. S.en
dc.contributor.authorMeng, X. J.en
dc.contributor.authorBdikin, I. K.en
dc.contributor.authorSilibin, M. V.en
dc.contributor.authorKarpinsky, D. V.en
dc.contributor.authorTian , B. B.en
dc.contributor.authorWang, J. L.en
dc.contributor.authorBystrova, A. V.en
dc.contributor.authorParamonova, E. V.en
dc.date.accessioned2020-03-24T06:59:34Z-
dc.date.available2020-03-24T06:59:34Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.citationFerroelectric nanocomposites based on polymer ferroelectrics and graphene/oxide graphene: Computer modeling and SPFM experiments / V. S. Bystrov, X. J. Meng, I. K. Bdikin, M. V. Silibin, D. V. Karpinsky, B. B. Tian , J. L. Wang, A. V. Bystrova, E. V. Paramonova // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 33.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-1-4-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/80757-
dc.description.sponsorshipThe authors are thankful to the Russian Science Foundation (RSF grant # 16-19-10112) and to the Russian Foundation for Basic Researches (RFBR grants # 16-51-53917) for support. Prof. Xiang-Jian Meng expresses his gratitude to the National Natural Science Foundation of China (NNSFC) for support of the project: "The study on the new type of infrared detector based on ferroelectric tunnel junction".en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relationinfo:eu-repo/grantAgreement/RSF//16-19-10112en
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018en
dc.titleFerroelectric nanocomposites based on polymer ferroelectrics and graphene/oxide graphene: Computer modeling and SPFM experimentsen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials"en
dc.conference.date26.08.2018-29.08.2018-
local.description.firstpage33-
local.description.lastpage33-
local.description.orderI-18-
local.fund.rsf16-19-10112-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-1-4_2018_023.pdf356,94 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.