1. Электронный научный архив УрФУ
  2. 00. Общеуниверситетские коллекции
  3. Конференции, семинары, сборники
  4. Scanning Probe Microscopy
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/80734
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorTofail, S. A. M.en
dc.contributor.authorKarimi-Jafari, M.en
dc.contributor.authorStapleton, A.en
dc.contributor.authorGuo, Y.en
dc.contributor.authorKowal, K.en
dc.contributor.authorChovan, D.en
dc.contributor.authorKailas, L.en
dc.contributor.authorGandhi, A.en
dc.contributor.authorO’Sullivan, K.en
dc.contributor.authorMaher, A.en
dc.contributor.authorHaq, E. U.en
dc.date.accessioned2020-03-24T06:59:29Z-
dc.date.available2020-03-24T06:59:29Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.citationSPM investigations of domain walls in Barium titanate PTC thermistors / S. A. M. Tofail, M. Karimi-Jafari, A. Stapleton, Y. Guo, K. Kowal, D. Chovan, L. Kailas, A. Gandhi, K. O’Sullivan, A. Maher, E. U. Haq // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 214.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-1-4-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/80734-
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018en
dc.titleSPM investigations of domain walls in Barium titanate PTC thermistorsen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials"en
dc.conference.date26.08.2018-29.08.2018-
local.description.firstpage214-
local.description.lastpage214-
local.description.orderP-94-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-1-4_2018_153.pdf211,57 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Статистика


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.