1. Электронный научный архив УрФУ
  2. 00. Общеуниверситетские коллекции
  3. Конференции, семинары, сборники
  4. Scanning Probe Microscopy
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/80726
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorShumov, I. D.en
dc.contributor.authorKanashenko, S. L.en
dc.contributor.authorZiborov, V. S.en
dc.contributor.authorIvanov, Yu. D.en
dc.contributor.authorArchakov, A. I.en
dc.contributor.authorPleshakova, T. O.en
dc.date.accessioned2020-03-24T06:59:27Z-
dc.date.available2020-03-24T06:59:27Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.citationThe limit of mass determination with an AFM cantilever-based system / I. D. Shumov, S. L. Kanashenko, V. S. Ziborov, Yu. D. Ivanov, A. I. Archakov, T. O. Pleshakova // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 205-206.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-1-4-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/80726-
dc.description.sponsorshipThis study was performed in the framework of the Program for Basic Research of State Academies of Sciences for 2013-2020. Shumov I.D. is a recipient of Russian Federation President scholarship for young scientists for 2016-2018 (project identificator SP-4280.2016.4).en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018en
dc.titleThe limit of mass determination with an AFM cantilever-based systemen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials"en
dc.conference.date26.08.2018-29.08.2018-
local.description.firstpage205-
local.description.lastpage206-
local.description.orderP-87-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-1-4_2018_146.pdf306,68 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Статистика  Google Scholar





Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.