Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/80725
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorShcherbakova, O. O.en
dc.contributor.authorMuravyeva, T. I.en
dc.contributor.authorGainutdinov, R. V.en
dc.contributor.authorShkalei, I. V.en
dc.contributor.authorZagorskiy, D. L.en
dc.contributor.authorPetrova, N. N.en
dc.contributor.authorTimofeeva, E. N.en
dc.date.accessioned2020-03-24T06:59:27Z-
dc.date.available2020-03-24T06:59:27Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.citationMethods of probe microscopy in the study of topography and elastic properties of cold-resistant elastomers / O. O. Shcherbakova, T. I. Muravyeva, R. V. Gainutdinov, I. V. Shkalei, D. L. Zagorskiy, N. N. Petrova, E. N. Timofeeva // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 203-204.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-1-4-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/80725-
dc.description.sponsorshipThe work was carried out under the financial support of the Russian Science Fund, grant 14-29-00198-П(sample preparation and scanning electron microscopy) and the Federal Agency of Scientific Organizations - Agreement No 007-ГЗ/Ч3363/26 (scanning probe microscopy).en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relationinfo:eu-repo/grantAgreement/RSF//14-29-00198-Пen
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018en
dc.titleMethods of probe microscopy in the study of topography and elastic properties of cold-resistant elastomersen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials"en
dc.conference.date26.08.2018-29.08.2018-
local.description.firstpage203-
local.description.lastpage204-
local.description.orderP-86-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-1-4_2018_145.pdf493,08 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.