Probe microscopy in the study of the surface of aluminum alloys

Shcherbakova, O. O.; Muravyeva, T. I.; Bobrov, Yu. A.; Zagorskiy, D. L.; Shkaley, I. V.

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/80723

Полная запись метаданных

Поле DC	Значение	Язык
dc.contributor.author	Shcherbakova, O. O.	en
dc.contributor.author	Muravyeva, T. I.	en
dc.contributor.author	Bobrov, Yu. A.	en
dc.contributor.author	Zagorskiy, D. L.	en
dc.contributor.author	Shkaley, I. V.	en
dc.date.accessioned	2020-03-24T06:59:27Z	-
dc.date.available	2020-03-24T06:59:27Z	-
dc.date.issued	2018	-
dc.identifier.citation	Probe microscopy in the study of the surface of aluminum alloys / O. O. Shcherbakova, T. I. Muravyeva, Yu. A. Bobrov, D. L. Zagorskiy, I. V. Shkaley // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 200-201.	en
dc.identifier.isbn	978-5-9500624-1-4	-
dc.identifier.uri	http://elar.urfu.ru/handle/10995/80723	-
dc.description.sponsorship	The work was supported by the Grant of the RNF 14-19-01033-P (study of topography and elemental composition of the surface) and the State Task (№ State registration AAAA-A17-117021310379-5 - study of electrical properties of the surface). The authors are grateful to N.A. Belov (MISiS) for providing samples.	en
dc.format.mimetype	application/pdf	en
dc.language.iso	en	en
dc.publisher	Ural Federal University	en
dc.relation	info:eu-repo/grantAgreement/RSF//14-19-01033-P	en
dc.relation.ispartof	International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018	en
dc.title	Probe microscopy in the study of the surface of aluminum alloys	en
dc.type	Conference Paper	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/conferenceObject	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion	en
dc.conference.name	International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials"	en
dc.conference.date	26.08.2018-29.08.2018	-
local.description.firstpage	200	-
local.description.lastpage	201	-
local.description.order	P-84	-
Располагается в коллекциях:	Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:

Файл	Описание	Размер	Формат
978-5-9500624-1-4_2018_143.pdf		514,08 kB	Adobe PDF	Просмотреть/Открыть

Показать базовое описание ресурса Статистика

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.