Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/80710
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorPelegova, E. V.en
dc.contributor.authorShishkina, E. V.en
dc.contributor.authorAkhmatkhanov, A. R.en
dc.contributor.authorKosobokov, M. S.en
dc.contributor.authorShur, V. Ya.en
dc.contributor.authorШур, В. Я.ru
dc.date.accessioned2020-03-24T06:59:24Z-
dc.date.available2020-03-24T06:59:24Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.citationLocal polarization reversal in KTP single crystals / E. V. Pelegova, E. V. Shishkina, A. R. Akhmatkhanov, M. S. Kosobokov, V. Ya. Shur // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 181-182.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-1-4-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/80710-
dc.description.sponsorshipThe research was made possible in part by RFBR (grant 16-02-00724) and by President of Russian Federation grant for young scientists (Contract 14.Y30.17.2837-MK). The equipment of the Ural Center for Shared Use “Modern nanotechnology” Ural Federal University was used.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018en
dc.titleLocal polarization reversal in KTP single crystalsen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials"en
dc.conference.date26.08.2018-29.08.2018-
local.description.firstpage181-
local.description.lastpage182-
local.description.orderP-72-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-1-4_2018_131.pdf334,92 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.