1. Электронный научный архив УрФУ
  2. 00. Общеуниверситетские коллекции
  3. Конференции, семинары, сборники
  4. Scanning Probe Microscopy
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/80709
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorPavlov, D. P.en
dc.contributor.authorGarig’yanov, N. N.en
dc.contributor.authorLeontyev, A. V.en
dc.contributor.authorZharkov, D. K.en
dc.contributor.authorKabanov, V. V.en
dc.contributor.authorMamin, R. F.en
dc.date.accessioned2020-03-24T06:59:24Z-
dc.date.available2020-03-24T06:59:24Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.citationQuasi-two-dimensional electron system at the interface between antiferromagnet LaMnO3 and ferroelectric Ba0.8Sr0.2TiO3 / D. P. Pavlov, N. N. Garig’yanov, A. V. Leontyev, D. K. Zharkov, V. V. Kabanov, R. F. Mamin // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 180.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-1-4-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/80709-
dc.description.sponsorshipThe reported study was funded by Russian Scientific Foundation according to the research project No. 18-12-00260.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relationinfo:eu-repo/grantAgreement/RSF//18-12-00260en
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018en
dc.titleQuasi-two-dimensional electron system at the interface between antiferromagnet LaMnO3 and ferroelectric Ba0.8Sr0.2TiO3en
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials"en
dc.conference.date26.08.2018-29.08.2018-
local.description.firstpage180-
local.description.lastpage180-
local.description.orderP-71-
local.fund.rsf18-12-00260-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-1-4_2018_130.pdf160,32 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Статистика  Google Scholar





Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.