Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/80686
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorAnkudinov, A. V.en
dc.date.accessioned2020-03-24T06:59:18Z-
dc.date.available2020-03-24T06:59:18Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.citationAnkudinov A. V. Stick and slip states in the probe-sample force interaction and informative nanomechanical measurements using AFM / A. V. Ankudinov // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 19-20.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-1-4-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/80686-
dc.description.sponsorshipThe work was supported by FTP № 14.604.21.0200 (RFMEFI60417X0200).en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018en
dc.titleStick and slip states in the probe-sample force interaction and informative nanomechanical measurements using AFMen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials"en
dc.conference.date26.08.2018-29.08.2018-
local.description.firstpage19-
local.description.lastpage20-
local.description.orderI-06-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-1-4_2018_011.pdf163,38 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.