1. Электронный научный архив УрФУ
  2. 00. Общеуниверситетские коллекции
  3. Конференции, семинары, сборники
  4. Scanning Probe Microscopy
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/80685
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorLapitskaya, V. A.en
dc.contributor.authorKuznetsova, T. A.en
dc.contributor.authorSudzilouskaya, K. A.en
dc.contributor.authorZubar, T. I.en
dc.contributor.authorChizhik, S. A.en
dc.contributor.authorKotov, D. A.en
dc.contributor.authorNikitiuk, S. A.en
dc.date.accessioned2020-03-24T06:59:18Z-
dc.date.available2020-03-24T06:59:18Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.citationFriction coefficient obtained using AFM as a criterion of changes in the surface properties after low-temperature plasma treatment / V. A. Lapitskaya, T. A. Kuznetsova, K. A. Sudzilouskaya, T. I. Zubar, S. A. Chizhik, D. A. Kotov, S. A. Nikitiuk // Scanning Probe Microscopy. Abstract Book of International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2018. — p. 154.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-1-4-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/80685-
dc.description.sponsorshipThis research was supported by the grant of Belarussian Republican Foundation for Fundamental Research BRFFR No.F17-118.en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials". — Ekaterinburg, 2018en
dc.titleFriction coefficient obtained using AFM as a criterion of changes in the surface properties after low-temperature plasma treatmenten
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.nameInternational Conference "Scanning Probe Microscopy" ; International Workshop "Modern Nanotechnologies" ; International Youth Conference "Functional Imaging of Nanomaterials"en
dc.conference.date26.08.2018-29.08.2018-
local.description.firstpage154-
local.description.lastpage154-
local.description.orderP-50-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-1-4_2018_109.pdf68,3 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Статистика


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.