Phase composition distribution simulation of titanium oxide nanosize structures obtained by the local anodic oxidation method

Karen’kih, O. G.; Avilov, V. I.; Smirnov, V. A.; Tominov, R. V.; Sharapov, N. A.; Polupanov, N. A.

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/79243

Полная запись метаданных

Поле DC	Значение	Язык
dc.contributor.author	Karen’kih, O. G.	en
dc.contributor.author	Avilov, V. I.	en
dc.contributor.author	Smirnov, V. A.	en
dc.contributor.author	Tominov, R. V.	en
dc.contributor.author	Sharapov, N. A.	en
dc.contributor.author	Polupanov, N. A.	en
dc.date.accessioned	2019-12-19T12:26:29Z	-
dc.date.available	2019-12-19T12:26:29Z	-
dc.date.issued	2019	-
dc.identifier.citation	Phase composition distribution simulation of titanium oxide nanosize structures obtained by the local anodic oxidation method / O. G. Karen’kih, V. I. Avilov, V. A. Smirnov, R. V. Tominov, N. A. Sharapov, N. A. Polupanov // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 120-121.	en
dc.identifier.isbn	978-5-9500624-2-1	-
dc.identifier.uri	http://elar.urfu.ru/handle/10995/79243	-
dc.description.sponsorship	This work was supported by Grant of the President of the Russian Federation No. MK-2721.2018.8. and by RFBR according to the research project № 18-37-00299.	en
dc.format.mimetype	application/pdf	en
dc.language.iso	en	en
dc.publisher	Ural Federal University	en
dc.relation.ispartof	Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019	en
dc.title	Phase composition distribution simulation of titanium oxide nanosize structures obtained by the local anodic oxidation method	en
dc.type	Conference Paper	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/conferenceObject	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion	en
dc.conference.name	3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials"	en
dc.conference.date	25.08.2019-28.08.2019	-
local.description.firstpage	120	-
local.description.lastpage	121	-
Располагается в коллекциях:	Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:

Файл	Описание	Размер	Формат
978-5-9500624-2-1_2019_097.pdf		471,5 kB	Adobe PDF	Просмотреть/Открыть

Показать базовое описание ресурса Статистика

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.