ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/79235| Название: | Materials Imaging and Integration (MII): new paradigm of nanoscale materials design and discovery |
| Авторы: | Hong, S. Cho, S. Park, G. Kim, H. Li, P. Ryu, J. Oh, C. Kim, H. J. Kim, J. Yun, S. Oh, J. Glasser, M. Yeom, J. Eom, S. Jetybayeva, A. Kim, H. G. Han, Y. J. |
| Дата публикации: | 2019 |
| Издатель: | Ural Federal University |
| Библиографическое описание: | Materials Imaging and Integration (MII): new paradigm of nanoscale materials design and discovery / S. Hong, S. Cho, G. Park, H. Kim, P. Li, J. Ryu, C. Oh, H. J. Kim, J. Kim, S. Yun, J. Oh, M. Glasser, J. Yeom, S. Eom, A. Jetybayeva, H. G. Kim, Y. J. Han // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 15. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/79235 |
| Конференция/семинар: | 3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials" |
| Дата конференции/семинара: | 25.08.2019-28.08.2019 |
| ISBN: | 978-5-9500624-2-1 |
| Источники: | Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019 |
| Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 978-5-9500624-2-1_2019_009.pdf | 73,86 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.