1. Электронный научный архив УрФУ
  2. 00. Общеуниверситетские коллекции
  3. Конференции, семинары, сборники
  4. Scanning Probe Microscopy
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/79221
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorUshakov, A. D.en
dc.contributor.authorEsin, A. A.en
dc.contributor.authorAkhmatkhanov, A. R.en
dc.contributor.authorHu, Q.en
dc.contributor.authorLiu, X.en
dc.contributor.authorZhao, Y.en
dc.contributor.authorAndreev, A. A.en
dc.contributor.authorWei, X.en
dc.contributor.authorShur, V. Ya.en
dc.contributor.authorШур, В. Я.ru
dc.date.accessioned2019-12-19T12:26:26Z-
dc.date.available2019-12-19T12:26:26Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.citationDomain structure evolution in (111)-cut rhombohedral PMN-PT single crystals during polarization reversal / A. D. Ushakov, A. A. Esin, A. R. Akhmatkhanov, Q. Hu, X. Liu, Y. Zhao, A. A. Andreev, X. Wei, V. Ya. Shur // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 93.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-2-1-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/79221-
dc.description.sponsorshipThe equipment of the Ural Center for Shared Use “Modern Nanotechnology” UrFU has been used. The research was made possible in part by RFBR (grant 17-52-80116-BRICS_a).en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relation.ispartofScanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019en
dc.titleDomain structure evolution in (111)-cut rhombohedral PMN-PT single crystals during polarization reversalen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.name3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials"en
dc.conference.date25.08.2019-28.08.2019-
local.description.firstpage93-
local.description.lastpage93-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-2-1_2019_077.pdf397,58 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Статистика  Google Scholar





Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.