Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/79216
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorChuvakova, M. A.en
dc.contributor.authorAkhmatkhanov, A. R.en
dc.contributor.authorSaveliev, E. D.en
dc.contributor.authorSursyakov, V. S.en
dc.contributor.authorEsin, A. A.en
dc.contributor.authorChezganov, D. S.en
dc.contributor.authorAlikin, D. O.en
dc.contributor.authorNebogatikov, M. S.en
dc.contributor.authorLobov, A. I.en
dc.contributor.authorGalenko, P. K.en
dc.contributor.authorAlexandrov, D. V.en
dc.contributor.authorKorzhenevskii, A. L.en
dc.contributor.authorShur, V. Ya.en
dc.contributor.authorШур, В. Я.ru
dc.date.accessioned2019-12-19T12:26:25Z-
dc.date.available2019-12-19T12:26:25Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.citationFormation of dendrite domain structures in single crystals of lithium niobate / M. A. Chuvakova, A. R. Akhmatkhanov, E. D. Saveliev, V. S. Sursyakov, A. A. Esin, D. S. Chezganov, D. O. Alikin, M. S. Nebogatikov, A. I. Lobov, P. K. Galenko, D. V. Alexandrov, A. L. Korzhenevskii, V. Ya. Shur // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 87.en
dc.identifier.isbn978-5-9500624-2-1-
dc.identifier.urihttp://elar.urfu.ru/handle/10995/79216-
dc.description.sponsorshipThe equipment of Ural Center for Shared Use “Modern Nanotechnology” Ural Federal University was used. The research was made possible by Russian Science Foundation (Project № 19-12-00210).en
dc.format.mimetypeapplication/pdfen
dc.language.isoenen
dc.publisherUral Federal Universityen
dc.relationinfo:eu-repo/grantAgreement/RSF//19-12-00210en
dc.relation.ispartofScanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019en
dc.titleFormation of dendrite domain structures in single crystals of lithium niobateen
dc.typeConference Paperen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferenceObjecten
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersionen
dc.conference.name3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials"en
dc.conference.date25.08.2019-28.08.2019-
local.description.firstpage87-
local.description.lastpage87-
local.fund.rsf19-12-00210-
Располагается в коллекциях:Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
978-5-9500624-2-1_2019_072.pdf284,06 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.