ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/79197| Название: | Automation of topography and phase contrast measurements in tapping mode |
| Авторы: | Bobrov, Y. A. Bykov, V. A. Leesment, S. I. Polyakov, V. V. |
| Дата публикации: | 2019 |
| Издатель: | Ural Federal University |
| Библиографическое описание: | Bobrov Y. A. Automation of topography and phase contrast measurements in tapping mode / Y. A. Bobrov, V. A. Bykov, S. I. Leesment, V. V. Polyakov // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 69-70. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/79197 |
| Конференция/семинар: | 3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials" |
| Дата конференции/семинара: | 25.08.2019-28.08.2019 |
| ISBN: | 978-5-9500624-2-1 |
| Источники: | Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019 |
| Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 978-5-9500624-2-1_2019_055.pdf | 453,42 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.