ISSN: 2310-757X
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://elar.urfu.ru/handle/10995/79191| Название: | Infrared imaging: fundamentals and applications |
| Авторы: | Tofail, S. A. M. O’Mahony, C. Markham, S. Mani, A. Silien, C. Bauer, J. Korsakova, E. Korsakov, A. Zhukova, L. |
| Дата публикации: | 2019 |
| Издатель: | Ural Federal University |
| Библиографическое описание: | Infrared imaging: fundamentals and applications / S. A. M. Tofail, C. O’Mahony, S. Markham, A. Mani, C. Silien, J. Bauer, E. Korsakova, A. Korsakov, L. Zhukova // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 9. |
| URI: | http://elar.urfu.ru/handle/10995/79191 |
| Конференция/семинар: | 3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials" |
| Дата конференции/семинара: | 25.08.2019-28.08.2019 |
| ISBN: | 978-5-9500624-2-1 |
| Источники: | Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019 |
| Располагается в коллекциях: | Scanning Probe Microscopy |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 978-5-9500624-2-1_2019_005.pdf | 156,38 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.