Electrochemical Strain Microscopy of Li-ion battery cathodes

Alikin, D. O.; Romanyuk, K. N.; Slautin, B. N.; Rosato, D.; Shur, V. Ya.; Tselev, A.; Kholkin, A. L.; Шур, В. Я.

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://elar.urfu.ru/handle/10995/79184

Полная запись метаданных

Поле DC	Значение	Язык
dc.contributor.author	Alikin, D. O.	en
dc.contributor.author	Romanyuk, K. N.	en
dc.contributor.author	Slautin, B. N.	en
dc.contributor.author	Rosato, D.	en
dc.contributor.author	Shur, V. Ya.	en
dc.contributor.author	Tselev, A.	en
dc.contributor.author	Kholkin, A. L.	en
dc.contributor.author	Шур, В. Я.	ru
dc.date.accessioned	2019-12-19T12:26:22Z	-
dc.date.available	2019-12-19T12:26:22Z	-
dc.date.issued	2019	-
dc.identifier.citation	Electrochemical Strain Microscopy of Li-ion battery cathodes / D. O. Alikin, K. N. Romanyuk, B. N. Slautin, D. Rosato, V. Ya. Shur, A. Tselev, A. L. Kholkin // Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. Abstract Book of Joint International Conference (Ekaterinburg, August 25-28, 2019). — Ekaterinburg, Ural Federal University, 2019. — P. 54.	en
dc.identifier.isbn	978-5-9500624-2-1	-
dc.identifier.uri	http://elar.urfu.ru/handle/10995/79184	-
dc.description.sponsorship	The work was financially supported by the Portuguese Foundation for Science and Technology (FCT) within the project PTDC/CTM-ENE/6341/2014. The equipment of the Ural Center for Shared Use “Modern nanotechnology” UrFU was used.	en
dc.format.mimetype	application/pdf	en
dc.language.iso	en	en
dc.publisher	Ural Federal University	en
dc.relation.ispartof	Scanning Probe Microscopy. Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials. — Ekaterinburg, 2019	en
dc.title	Electrochemical Strain Microscopy of Li-ion battery cathodes	en
dc.type	Conference Paper	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/conferenceObject	en
dc.type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion	en
dc.conference.name	3rd International Conference "Scanning Probe Microscopy" ; 4th Russia-China Workshop on Dielectric and Ferroelectric Materials ; International Youth Conference "Functional Imaging of nanomaterials"	en
dc.conference.date	25.08.2019-28.08.2019	-
local.description.firstpage	54	-
local.description.lastpage	54	-
Располагается в коллекциях:	Scanning Probe Microscopy

Файлы этого ресурса:

Файл	Описание	Размер	Формат
978-5-9500624-2-1_2019_043.pdf		329,26 kB	Adobe PDF	Просмотреть/Открыть

Показать базовое описание ресурса Статистика

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.